WL25V 模拟IC测试系统
WL25V 模拟IC测试系统
【测试対象元件】车载用元件、电源IC、电源管理IC、各种驱动用IC等
日本国内首位品牌WL25系列的出现，引起了日本测试模式的模范转变。依据WL25V的模拟pin的片状结构(slice architecture)可构筑非常简单的测试结构，测试范围涵盖广域的模拟IC，高速、高精度、同测功能充实，可为客户提供极好的测试性价比。
【WL25V】
规格
- 同测功能 : 最大32个
- 模拟 CH : 256ch (64V/1.5A)
- 数字 CH : 256ch (5M to 50M)
- 时间测量功能
- AWG功能
- Digitizer功能
WL15V/SCV66 模拟IC测试系统
【测试对象元件】民用音频、运放、DC-DC、电源管理IC等
WL15系列，适应顾客的多样需求，构筑最适合的结构，是可提供高性能且构架紧凑的模拟IC测试系统。
【WL15V】
规格
- 同测功能 : 最大32个
- 模拟 CH : 64ch (64V/320mA)
- 数字 CH : 32ch (5M to 50M)
- 时间测量功能
- Audio功能
【SCV66】
规格
- 同测功能: 最大16个
- 模拟 CH : 32ch (64V/320mA)
- 时间测量功能
