分立器件测试系统
JCTS-102S DC(静态特性)测试系统(1.2kV/20A)
是针对二极管,三极管,MOSFET的从小信号到大电流的高速静态特性测试系统。
【JCTS-102S】
特点
- 实现继电器1ms高速动作、测试时间的缩短
- 1台PC可控制最大4台测试机同时测试
- 配有生产履历备份复制功能
- 使用Excel Like可简单编写、修改程序
- 配有1mV微小电圧检出回路(选件)
规格
检出 | 施加 | |
---|---|---|
高电压 | 0.0000V~1.2000kV | 0.000uA~50.00mA |
小电流 | 000.00pA~999.99uA | 0.000V~1.200kV |
恒电压 | 00.000mV~40.000V | 0.000uA~20.00A |
电流 | 0.0000uA~20.000A | 000.0mV~40.00V |
JCTS-400 DC(静态特性)测试系统(2kV/100A)
JCTS-400 是针对二极管,三极管,MOSFET的大电流、高速静态特性测试系统。
【JCTS-400】
特点
- 实现继电器3ms高速动作、测试时间的缩短
- 1台PC可控制最大4台测试机同时测试
- 配有生产履历备份复制功能
- 使用Excel Like可简单编写、修改程序。
- 配有1mV微小电圧检出回路(选件)
- 过渡热阻测试系统(选件)
- Contact保护电路(选件)
规格
检出 | 施加 | |
---|---|---|
高电压 | 00.000V~2.0000kV | 0.000uA~50.00mA |
小电流 | 000.00pA~999.99uA | 0.000V~2.000kV |
恒电压 | 00.000mV~80.000V | 0.000uA~99.99A |
电流 | 0.0000uA~99.999A | 000.0mV~80.00V |
ILT-1000 L负载测试系统(2000V/100A/200V)
ILT-1000是通过观察MOS-FET的L负载的TurnOff的波形,对设定的VGATE, IH, IL的Vsus保証区域,进行GO/NO判断的测试系统。
【ILT-1000】
特点
- 可对Vsus,IDP,TG进行判定以及表示
- 仅数ms即可完成测试(根据測定条件有所变化)
- 2 STATION的测试可
- Coil为专用固定线圈、在外观和测试上采取最适合的设置
- 通过TG监视,可检测出装有测试程序指定以外的Coil
规格
项目 | 设定范围 | 分辨率 |
---|---|---|
drain electric current(ID) | 0.5A~100.0A | 0.1A |
drain voltage(VD) | 10.0V~200.0V | 0.1V |
gate forward voltage(VGS) | 0.0V~30.0V | 0.1V |
gate reverse voltage(VGR) | -0.0V~-30.0V | 0.1V |
area designated electric current (IH/IL) | 0.2A~100.0A | 0.1A |
Vsus limit(V-GATE) | 10V~2000V | 1V |
TRT-1000 过渡热阻测试系统(200V/50A)
TRT-1000是针对MOS-FET ,三极管等的过渡热阻(θjc)、利用PN Junction的正向电压随温度按比例変化的特性、通过测试ΔVF、与规定値比较,判断,分类的测试系统。
【TRT-1000】
特点
- 因为电路上不用干璜继电器,缩短时间
- 用HeadBox代替Front测试单元,实现在最合适的电路环境下测试
- Contact测试,电流可任意设定,可显示接触电阻值
- 测试中各端子的波形可用PC观察,波形观察容易
- 根据自检功能可容易发现各Bias电路的故障
规格
项目 | 测试量程 | 分辨率 |
---|---|---|
VBE1/VSD1/VGE1/VCE1/VF1 | 0000mV~9999mV | 1mV |
drain voltage(VD) | 10.0V~200.0V | 0.1V |
ΔVBE/ΔVSD/ΔVGE/ΔVCE/ΔVF | 000.0mV~999.9mV | 0.1mV |
ΔVBE/ΔVSD/ΔVGE/ΔVCE/ΔVF | 0000mV~9999mV | 1mV |
项目 | 测试量程 | 分辨率 |
---|---|---|
VCB/VDS | 000.1V~200.0V | 0.1V |
IE/ID/IF | 00.001A~50.000A | 0.001A |
IM | 001mA~400mA | 1mA |
Power Time (PT) | 100us~9.99s | 3 digits least Bit |
Delay Time (DT) | 010us~999us | 1us |
Gate Limit (G-Limit) | 1.0V~20.0V | 0.1V |
Lower Gate (LOW) | 000.0mV~999.9mV | 0.1mV |
/Upper Gate (UP) | 0000mV~9999mV | 1mV |